تعداد نشریات | 44 |
تعداد شمارهها | 1,303 |
تعداد مقالات | 16,047 |
تعداد مشاهده مقاله | 52,589,515 |
تعداد دریافت فایل اصل مقاله | 15,268,462 |
یک مقایسهگر جدید با قابلیت حذف نویز FPN برای استفاده در سنسورهای تصویر | ||
مجله مهندسی برق دانشگاه تبریز | ||
دوره 52، شماره 4 - شماره پیاپی 102، دی 1401، صفحه 259-268 اصل مقاله (1.36 M) | ||
نوع مقاله: علمی-پژوهشی | ||
شناسه دیجیتال (DOI): 10.22034/tjee.2023.15793 | ||
نویسندگان | ||
خدیجه کرم زاده1؛ مسعود تیموری* 2؛ مسعود دوستی3؛ پویا ترک زاده1 | ||
1گروه مهندسی برق، واحد علوم تحقیقات، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران | ||
2دانشکده برق، دانشگاه صنعتی ارومیه، ارومیه، ایران | ||
3گروه مهندسی برق و کامپیوتر، واحد علوم و تحقیقات، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران | ||
چکیده | ||
چکیده در این مقاله، یک مقایسهگر برای استفاده در سنسورهای تصویر CMOS معرفی شده است که علاوه بر عملیات مقایسه ولتاژ برای مبدل داده، نویز FPN پیکسل را نیز میتواند حذف کند. به علت وجود تعداد زیادی مدار در سنسورهای تصویر ستون-موازی، این تکنیک با ادغام مدار حذف نویز در مبدل داده، میتواند به صرفهجویی در مصرف توان، سطح سیلیکونی و زمان عکسبرداری کمک کند. نتایج شبیهسازی نشان میدهد که مقایسهگر پیشنهادی برای محدوده ورودی7/0 تا 7/1 ولت با دقت 1 میلیولت میتواند عملیات مقایسه و حذف نویز را در25 نانوثانیه انجام دهد. کل توان مصرفی مقایسهگر 64 میکرووات میباشد که دارای تغذیه 8/1 و 5/2 ولتی بوده و نویز FPN تا دامنه 50 میلیولت را با دقت خوبی حذف مینماید. همچنین کل نویز ارجاعشده به ورودی مقایسهکننده برای پهنای باند 1 هرتز تا 1 گیگاهرتز 500 میکرو ولت بهدست آمد. جانمایی مدار مقایسهگر 380×7 میکرومتر مربع میباشد. تمامی مدارها با تکنولوژی 0.18μm CMOS طراحی و توسط شبیهساز Spectre شبیه سازی شده است. | ||
کلیدواژهها | ||
کلیدواژهها : سنسور تصویر CMOS؛ ADC تکشیب؛ نمونهبرداری دوگانه همبسته؛ سوئیچ خازنی؛ FPN | ||
مراجع | ||
[1] T. Hirayama, "The evolution of CMOS image sensors", 2013 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC), 2013, pp. 5-8, doi: 10.1109/ASSCC.2013.6690968. [2] F. Morishita, W. Saito, Y. Iizuka, N. Kato, R. Otake and M. Ito, "A 30.2-µ Vrms Horizontal Streak Noise 8.3-Mpixel 60-Frames/s CMOS Image Sensor With Skew-Relaxation ADC and On-Chip Testable Ramp Generator for Surveillance Camera," in IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. 57, no. 10, pp. 3103-3113, Oct. 2022, doi: 10.1109/JSSC.2022.3176379. [3] Z. Li, H. Xu, Z. Liu, L. Luo, Q. Wei and F. Qiao, "A 2.17μW@120fps Ultra-Low-Power Dual-Mode CMOS Image Sensor with Senputing Architecture," 2022 27th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), 2022, pp. 92-93, doi: 10.1109/ASP-DAC52403.2022.9712591. [4] J. -S. Hyeon, S. -H. Kim and H. -J. Kim, "A Low-Power CMOS Image Sensor With Multiple-Column-Parallel Readout Structure," in IEEE Journal of the Electron Devices Society, vol. 10, pp. 180-187, 2022, doi: 10.1109/JEDS.2022.3148087. [5] J. Nakamura, "Image Sensors and Signal Processing for Digital Still Cameras", Taylor & Francis, 2006. [6] Jing Gao, Ningxi Yan, Kaiming Nie, Zhiyuan Gao, Jiangtao Xu, "A 2.44μs row conversion time 12-bit high-speed differential single-slope ADC with TDC applied to CMOS image sensor",Microelectronics Journal,Volume 120,2022, [7] K. Park, S. Yeom and S. Y. Kim, "Ultra-Low Power CMOS Image Sensor With Two-Step Logical Shift Algorithm-Based Correlated Double Sampling Scheme," in IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, vol. 67, no. 11, pp. 3718-3727, Nov. 2020, doi: 10.1109/TCSI.2020.3012980. [8] N. Chen, S. Zhong, M. Zou, J. Zhang, Z. Ji, L. Yao, "A Low-Noise CMOS Image Sensor with Digital Correlated Multiple Sampling ", IEEE Transactions on Circuits and Systems–I: Regular Papers. 2017. [9] S. Okura, O. Nishikido, Y. Sadanaga, Y. Kosaka, N. Araki, K. Ueda, F. Morishita, "A 3.7 M-Pixel 1300-fps CMOS Image Sensor with 5.0 G-Pixel/s High-Speed Readout Circuit", IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol. 50, No. 4, 2015. [10] N. Cottini, M. Gottardi, N. Massari, R. Passerone, Z. Smilansky. "A 33W 64×64 Pixel Vision Sensor Embedding Robust Dynamic Background Subtraction for Event Detection and Scene Interpretation", IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol. 48, No. 3, 2013. [11] L. Gaioni et al., "Optimization of the 65-nm CMOS Linear Front-End Circuit for the CMS Pixel Readout at the HL-LHC," in IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 68, no. 11, pp. 2682-2692, Nov. 2021, doi: 10.1109/TNS.2021.3117666. [12] صادق کلانتری، علیمحمد فتوحی، «حذف نویز ضربه از تصاویر طبیعی دیجیتال در محدوده وسیعی از چگالی نویز مبتنی بر فیلتر میانگین و میانه تطبیقی»، مجله مهندسی برق دانشگاه تبریز، دوره 47، شماره 2، صفحه 677-686، 1396. [13] D. Roma et al. "APS fixed pattern noise modelling and compensation", 2016 Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), 2016, pp. 1-5, doi: 10.1109/DCIS.2016.7845363. [14] Guicquero W, Alacoque L. "Impact of fixed pattern noise on embedded image compression techniques". 2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2017, pp. 1-4, doi: 10.1109/ISCAS.2017.8050547. [15] Q. Zhang, N. Ning, J. Li, Q. Yu, K. Wu, Z. Zhang, "A 12-Bit Column-Parallel Two-Step Single-Slope ADC With a Foreground Calibration for CMOS Image Sensors" IEEE Access, vol. 8, pp. 172467-172480, 2020, doi: 10.1109/ACCESS.2020.3025153. [16] S. Xie, A. Theuwissen, "A 10 Bit 5 MS/s Column SAR ADC With Digital Error Correction for CMOS Image Sensors", IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, vol. 67, no. 6, pp. 984-988, June 2020, doi: 10.1109/TCSII.2019.2928204. [17] H. Lee, D. Seo, W. Kim, B. Lee "A Compressive Sensing-Based CMOS Image Sensor With Second-Order ΣΔ ADCs", IEEE Sensors Journal, vol. 18, no. 6, pp. 2404-2410, 15 March15, 2018, doi: 10.1109/JSEN.2017.2787122. [18] J. -Y. Jeong, J. Shim, S. -K. Hong and O. -K. Kwon, "A High-Speed and Energy-Efficient Multi-Bit Cyclic ADC Using Single-Slope Quantizer for CMOS Image Sensors," in IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, vol. 68, no. 7, pp. 2322-2326, July 2021, doi: 10.1109/TCSII.2021.3062139. [19] مهدی حسیننژاد، حسین شمسی، «طراحی و شبیهسازی مبدل آنالوگ به دیجیتال لولهای مبتنی بر مقایسهگر ولتاژ پایین»، مجله مهندسی برق دانشگاه تبریز، دوره 46، شماره 1، صفحه 87-98، 1395. [20] H-J. Kim "11-bit Column-Parallel Single-Slope ADC With First-Step Half-Reference Ramping Scheme for High-Speed CMOS Image Sensors", IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. 56, no. 7, pp. 2132-2141, July 2021, doi: 10.1109/JSSC.2021.3059909. [21] J. Wei, X. Li, L. Sun, D. Li, "A 63.2μW 11-Bit Column Parallel Single-Slope ADC with Power Supply Noise Suppression for CMOS Image Sensors", 2020 IEEE International Symposium on Circuits and Systems 2020, pp. 1-4, doi: 10.1109/ISCAS45731.2020.9180739. [22] M. R. Elmezayen, B. Wu, S. U. Ay "Single-Slope Look-Ahead Ramp ADC for CMOS Image Sensors", IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, vol. 67, no. 12, pp. 4484-4493, Dec. 2020, doi: 10.1109/TCSI.2020.3007882. [23] روح اله صنعتی، فرزان خطیب، محمد جوادیان صراف، ریحانه کاردهی مقدم، «مقایسهکننده حوزه زمان بالک-درایو با بهره ولتاژ به زمان بالا و توان مصرفی پایین»، مجله مهندسی برق دانشگاه تبریز، دوره 51 ، شماره 4، صفحات 393-401، 1401. [24] M. Teymouri, J. Sobhi, "An ultra-linear CMOS image sensor for a high-accuracy imaging system", Int J Circ Theor Appl, 2018; 46: 1593– 1605. https://doi.org/10.1002/cta.2485. [25] I. Park, C. Park, J. Cheon and Y. Chae, "5.4 A 76mW 500fps VGA CMOS Image Sensor with Time-Stretched Single-Slope ADCs Achieving 1.95e- Random Noise", 2019 IEEE International Solid-State Circuits Conference 2019, pp. 100-102, doi: 10.1109/ISSCC.2019.8662388. [26] Q. Liu, A. Edward, M. Kinyua, E. G. Soenen and J. Silva-Martinez, "A Low-Power Digitizer for Back-Illuminated 3-D-Stacked CMOS Image Sensor Readout With Passing Window and Double Auto-Zeroing Techniques", IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. 52, no. 6, pp. 1591-1604, June 2017, doi: 10.1109/JSSC.2017.2661843 [27] T. Arai et al., "6.9 A 1.1µm 33Mpixel 240fps 3D-stacked CMOS image sensor with 3-stage cyclic-based analog-to-digital converters", 2016 IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC), 2016, pp. 126-128, doi: 10.1109/ISSCC.2016.7417939 | ||
آمار تعداد مشاهده مقاله: 298 تعداد دریافت فایل اصل مقاله: 307 |